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西克SICK激光测距传感器FOC03-AM1K
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FOC03-AM1K

类型：传感器 品牌：西克SICK 系列：OC Sharp 纳米级

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    特性规格： 产品量程从600微米到12毫米 光谱共焦法原理传感器带来高精度和高可靠性 极高的测量频率，达4,000 Hz 广泛适用于各种材料和颜色被测物的高精度稳定测量 一个测量头即可以精确测量极薄透明薄膜的厚度 最小4微米的极小光点，可以测量非常小的被测物 最高5.5纳米的分辨率 一台控制器同时连接一个测量头工作 测距，透明测厚和干涉法测厚三种测量工作模式 免费操作软件，使用方便 应用领域： 高精度识别测量：比如汽车行业发动机和变速箱等核心部件的尺寸测量，机床行业的高精度加工件测量 薄膜厚度测量：比如吹膜机膜厚监控，流延膜厚监控 精密制造及组装行业：比如轴承钢珠外形监控，细孔深度测量 电子及太阳能：半导体硅片表面物相监控 电子及太阳能：电路板质量监控，高精度IC针脚监控，比如硬盘制造，消费电子产品组装质量监控 透明玻璃厚度检测：比如显示屏玻璃平面度及厚度测量，镜头或镜片镀膜厚度检测客户受益： 得益于传感器纳米级的高精度和4K的测量频率，可以高速高精度的检测各种物体 极高的精度和极大的允许倾斜角度，让现场使用非常灵活，节省成本 单头测量透明物体厚度，为高精度透明物体测量提供高性价比方案 得益于其极小的光斑，该传感器可以用来测量极小的被测物，比如IC针脚，或者极小的孔深，而这些原来的接触式或者三角测量法传感器都无法实现，为客户的测量提供新的可能方案。 非接触性式，无需特殊安装设备及免示教的测量技术，为客户节省安装调试及后期维护时间，节省成本。 随机附带的操作软件，为客户节省时间和成本说明：西克(SICK)激光测距传感器FOC03-AM1K是由德国西克(sick)智能传感器专家生产的激光测距传感器，并授权我公司销售，我们可以为您提供完整FOC03-AM1K规格参数、使用说明书、选型资料、安装图纸、接线表、安装技术指导、报价等，我们承诺我们售出的西克(SICK)激光测距传感器FOC03-AM1K均是原装正品，请放心采购！如果页面中的参数与您需要的有出入，请联系客服咨询！

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    品牌介绍

    SICK 是国际先进的工业用传感器应用程序解决方案制造商之一。1946 年名誉博士兼工程师埃尔文·西克先生在瓦尔德基尔希市创办了公司，其总部位于布赖斯高地区，紧邻弗莱堡，SICK 是工业用传感器领域的技术和市场引领者之一，拥有 50 多家子公司和分支机构及代表处。SICK 在全球拥有近 12,000 名员工，2022 财政年度，集团营业额约为 22 亿欧元。 广州市西克传感器有限公司（简称：西克中国） 成立于1994年，是SICK在亚洲的全资子公司及重要分支机构之一。历经多年的发展与积累，西克中国已成为颇具影响力的智能传感器解决方案供应商。产品广泛应用于各行各业，包括汽车及零配件、新能源、锂电、轮胎、机器人、制药及化妆品、日用消费品、包装、印刷、食品饮料、机床、纺织、玻璃、太阳能、半导体、电子、风能、装配、仓储输送、快递、机场、交通、港口、起重、楼宇安全、工业用车AGV/AGC等行业。

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